gds 发表于 2007-3-18 03:31:46

[/free]显微图像的光学薄膜缺陷密度统计
薄膜表面缺陷密度统计是改进薄膜表面质量的重要依据。阐述了基于遗传算法的二维最大熵分割算法的原理及实现步骤。采用这种算法对薄膜缺陷图像进行分割，对分割后的图像进行了薄膜缺陷密度的测量。实验结果表明，这种方法对薄膜表面缺陷提取简单且易于测量，为分析缺陷原因提高薄膜质量起到重要的指导作用。
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60m 发表于 2007-6-27 07:10:34

没看到不知是否值得啊？

hanz 发表于 2007-6-30 04:01:43

有没有免费的提供啊？

nanajj76 发表于 2010-9-21 03:53:18

不顶不是我性格

不顶不是我性格！！！！！！！！！！！！！！！！
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