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膜厚监控的方法

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发表于 2006-8-24 01:54:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
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5 l8 d( Q5 t" N<title>真空镀膜机的操作系统中</title>, i6 `: C, v) y
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8 c' P* I. Z/ ?<p style="line-height: 150%"><font size="2">真空镀膜机的操作系统中,最关键最直接的部份首推膜厚监控系统&#46;而当今各厂家所使用的镀膜机监控系统据吾个人所知,不外以下三种: </font></p>
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<p style="line-height: 150%"><font size="2">一,微电脑数控式&#46;利用微电脑设定来控制膜料的输出功率与输出量&#46;此方法操作起来最为简捷明了所镀的膜厚也最为均匀&#46; <br>
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   缺点:无法测得真实的膜厚记录,故此方法一般仅用于溅镀机&#46; </font></p>- l$ P2 E0 ^7 W5 o" f) M9 r

1 b" _; h, R0 h! [& ?  m<p style="line-height: 150%"><font size="2">二,水晶振动子式&#46;一般采用二个或更多(以备不测),用此方法所测得结果较准确&#46;但因其本身非常敏感,故极易受外界因素影响&#46; </font></p>
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. z' ~9 Q& M: N3 ~' W<p style="line-height: 150%"><font size="2">三,光电式&#46;一般采用蓝光玻璃&#46;因其本身一块即可分成几部份使用,故一般只备用一个玻璃槽即可&#46;用此方法测得结果较为稳定&#46; </font></p>
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<p style="line-height: 150%"><font size="2"> 不过现在好象又有一种新的监控系统,是利用数控与光电相结合式的,相信其会给我们带来更为准确便捷直观的一种新的革命&#46; 5 l7 z. J+ R" @6 j4 R% ~/ i
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