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本帖最后由 cipeasia 于 2012-12-24 09:06 编辑
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& s4 A, w3 v, N! Q1 K《2012国际光学薄膜技术及应用高端讲座讲义》 O: ?$ Z5 M7 [
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此书系2012光学英才论坛——国际光学薄膜技术及应用高端讲座讲义，会议邀请到德国夫琅禾费研究所副所长Norbert Kaiser教授和德国夫琅禾费研究所光学镀膜部门经理Ulrike Schulz教授来华进行授课。该书对国夫琅禾费研究所光学镀膜产品和工艺研发进行了详细的阐述，主要内容包括：Physics and Technology of Optical Thin Film Deposition、Plastics Optics - Coatings and Antireflective Structures。是一本难得的内部资料。( ?9 A6 [2 w# v1 f3 t6 F
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《第十届全国光电技术学术交流会论文集》
W$ P& J% P& m2 d3 X会议于2012年6月14-16日在北京召开，共收录了会议论文及摘要384篇。内容涉及先进激光材料、薄膜及元器件、新型激光器技术、激光物理技术、超快激光科学与瞬态光子学技术、高功率激光应用、激光雷达成像技术及应用、空间激光通信技术、探测器材料及探测器组件技术、红外成像探测技术及应用、空间光学遥感技术、工程光学设计、制造技术、太赫兹技术发展及应用等。文集内容丰富新颖，汇集了近年来国内光电技术发展的新思想、新概念、新技术和新应用等。. @* }6 n9 o$ G1 S
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《国际光学设计、加工、检测高端讲座讲义》# Y B. }4 Y5 |+ m$ K
此书系2012光学英才论坛——国际光学设计、加工、检测高端讲座讲义，会议邀请到美国OPTICS 1公司Robert E. Fischer先生、日本理化学研究所大森整教授和苏州慧利仪器有限责任公司董事长韩森博士来华进行授课。该书对光学系统设计、光学加工、光学检测技术与工艺进行了详细的阐述，是三位世界知名专家思想的结晶，是一本难得的内部资料。
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, }. ~1 ^( X+ f# p" q《国防光学计量与测试技术学术研讨会论文集》, }+ Q3 M* m+ V# s
“国防光学计量与测试技术学术研讨会”于4月16-18日在成都召开，文集共收录35篇会议来稿及21篇特约专家报告，全书230页。内容涉及光学探测、导引和遥感系统的测试和校正技术，红外辐射及目标特征的计量和测试技术，激光束参量、激光成像系统及激光技术相关的测试技术和方法，可见光、红外、紫外及复合光电系统的成像质量评价技术，太赫兹计量和测试技术，微光夜视器件与系统参数计量和测试技术等方面。3 X7 j7 {1 \3 p9 j6 s
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《高光谱成像技术及其应用研讨会论文集》0 g W/ D1 k7 [* `
会议于2012年11与6-8日在苏州召开，文集共收录92篇优秀稿件，25篇特约专家报告，全书577页。内容涉及成像光谱仪器与设备，新型光谱仪技术，光谱数据处理技术，光谱成像定量化研究，高光谱成像技术应用等方面。
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其他图书资料见附件：
# m, z5 G' M! W0 D- I C打折资料单：2 W5 Q3 T) {$ D ~( I
内部资料：' j* L: w" G/ X* k7 `; [5 h# v m
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$ g, ^ E& h4 \9 S5 R0 ~; k会议资料由中国宇航学会光电技术专委会提供- {4 o* A$ t. S) u- }
联系电话：022-58168515 常磊6 Q* z9 w* g1 a+ N% V, i
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发表于 2012-12-24 00:40:03
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