高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品

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高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品
$ y$ M) i% d$ P( b可测参数：
6 _2 H. t* K: g' X1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um)
2）反射率R和透射率T
0 w* i& r/ S0 l) f) J3）折射率n和吸收系数k
4）能带间隙
5）表面粗糙度和损伤度
6）成份和结晶程度
7 E3 {3 K% T4 a8 Q& A/ e适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。