starofage 发表于 2018-6-26 20:56:20

关于晶振TOOLING值

设备放了段时间310晶控， 重新调整晶振TOOLING值，在基片上做单层材料测试中心波长来测定，然后在调整膜系，但是镀出来结果和设计差别太大，各位大侠 是什么原因啊？
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