本论坛独家重磅发布:利用TFC求膜层的N与K图文教程
1. 首先利用晶控控制沉积单层膜,厚度约4-7个1/4个中心波长,,这里假设在K9基底上沉积单层ZnS薄膜,晶控显示厚度390nm;2. 然后利用分光光度计测量单层膜的反射率或透射率,测量范围最好宽些,这里测量400-1500nm,利用list选项导出所测量数据,并保存为TXT格式,这里命名ZnS.TXT,如图所示:
3. 打开TFC,选择modify-materials
4.继续选择Add Material,填写材料名称,选择合适的N与K的拟合公式,这里选择Cauchy与Sellmeier公式,如果不合适,可试选别的公式,点OK结束。 5.试填写A0与B1等各系数,以后熟练可凭经验填写,点击Fit Data选项结束此步。
6.根据实际情况填写各选项,点击Set Constraints结束此步。
7. 填写薄膜厚度与是否优化,点OK离开。 **** Hidden Message ***** 好东西 先收下了 还有其他更具体的东西吗?
也让大家一起共享撒!
谢谢 恩,不错对于我来说这是一个不错的东西,该顶起!~ 太好了 第5步: Fit Data 沒有反應是陰影的點不了
這是為什麼呀!!!!!!!!! 好好学习,天天向上,向楼主致敬!